當前位置:主頁 > 產品展示 > 合金分析儀 > 測鍍層X熒光光譜儀 > 測鍍層X熒光光譜儀

測鍍層X熒光光譜儀

型號:TRF5000

產品時間:2017-05-24

簡要描述:

測鍍層X熒光光譜儀應用領域:鍍層成分分析鍍層厚度分析鍍層環保檢測

產品目錄

Product catalog

相關文章

Related articles

詳細介紹

  測鍍層X熒光光譜儀 規格:

1.元素分析范圍:硫-鈾(S-U)

2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%

3.zui低檢出限:1PPM

4.鍍層檢驗厚度:0.005-50μm(視材料類型而有所不同)

5.樣品腔尺寸:150*120*50(MM)

 

測鍍層X熒光光譜儀 應用領域:

 

鍍層成分分析

鍍層厚度分析

鍍層環保檢測  

 

產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7

掃一掃,加微信

版權所有 © 2019 上海奧析科學儀器有限公司
備案號:滬ICP備13035263號-2 技術支持:化工儀器網 管理登陸 GoogleSitemap

彩神8iii